Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (17)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (34)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (62)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (28)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (20)Расплавы (53)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Ge<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ф 79


   
    Формирование магнитных нанокристаллов в Ge-стеклах, допированных Fe и Dy [Текст] / И. С. Эдельман [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 136-142 : рис. - Библиогр.: с. 142 (21 назв.) . - ISSN 1195-078
ББК 53
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
СТЕКЛА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

Найти похожие

2.
Инвентарный номер: нет.
   
   Д 38


   
    Детекторы с квантовыми точками ge/si для инфракрасного диапазона / А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, Н. А. Кульчицкий, А. А. Мельников // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4. - С. 39-44 : рис. - Библиогр. : с. 44 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДЕТЕКТОРЫ ИНФРАКРАСНЫЕ -- ТОЧКИ КВАНТОВЫЕ -- ЯМЫ КВАНТОВЫЕ
Аннотация: Рассмотрены вопросы создания новых типов детекторов на квантовых точках Ge/Si для инфракрасного диапазона: детекторы на основе p-i-n структур, биполярные и полевые фототранзисторы на основе квантовых точек Ge/Si. Потенциальные преимущества новых типов детекторов могут быть использованы при дальнейшем развитии технологий выращивания квантовых точек с заданными размерами, формой и плотностью

Найти похожие

3.
Инвентарный номер: нет.
   
   Т 65


   
    Трансформация германосиликатного стекла в нанокластеры германия / А. А. Ковалевский [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 2. - С. 18-23 : рис. - Библиогр. : с. 23 (24 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОКЛАСТЕРЫ ГЕРМАНИЯ -- СТЕКЛО ГЕРМАНОСИЛИКАТНОЕ -- ОТТЕСНЕНИЯ ГЕРМАНИЯ
Аннотация: С использованием спектроскопии рамановского рассеивания света, ИК-спектроскопии, высокоразрешающей электронной и атомной силовой микроскопии и анализа дифракции рентгеновских лучей представлены результаты исследований процесса самоорганизации нанокластеров германия в пленках германосиликатного стекла (ТСС)- (SixGeyOz), полученных в процессе окисления и термообработки наноструктурированных пленок поликристаллического кремния, легированного германием (НСПКК (Ge)). Рассмотрен механизм оттеснения Ge в ТСС к границе раздела ТСС - подложка, который включает следующие стадии: расслоение между GeO2 и SiO2, последующее восстановление кремнием и водородом GeO2 до Ge и образование ядер маленьких кристаллитов Ge с их последующим ростом

Найти похожие

4.
Инвентарный номер: нет.
   
   М 34


   
    Материалы фазовой памяти на основе сложных халькогенидов и их применение в устройствах оперативной памяти / С. А. Козюхин [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 3-4. - С. 73-81 : рис., табл. - Библиогр. : с. 81 (36 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПАМЯТЬ ФАЗОВАЯ -- ФАЛЬКОГЕНИДЫ СЛОЖНЫЕ -- СИСТЕМА GE-SB-TE
Аннотация: Рассмотрены халькогенидные сплавы системы Ge-Sb-Te с точки зрения их использования в устройствах энергонезависимой фазовой памяти произвольного доступа. Проведен анализ физико-химических свойств кристаллических соединений и аморфных пленок на их основе

Найти похожие

5.
Инвентарный номер: нет.
   
   М 59


   
    Микроструктура границ раздела в гетеросистемах / А. Л. Васильев, В. В. Роддатис, М. Ю. Пресняков, А. С. Орехов, С. Лопатин, В. И. Бондаренко, М. В. Ковальчук // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 37-46 : рис. - Библиогр.: с. 46 (30 назв.) . -
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ГЕТЕРОСИСТЕМЫ -- МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ -- МИКРОАНАЛИЗ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ -- МЕХАНИЗМОВФОРМИРОВАНИЯ СЛОЕВ -- ГЕТЕРОСТРУКТУРА
Аннотация: Представлены результаты исследований структуры границ раздела и тонких пленок в гетероструктурах с использованием просвечивающей и просвечивающей растровой электронной микроскопии с коррекцией сферической аберрации и сверхчувствительного энергодисперсионного рентгеновского микроанализа. На примерах гетероструктур различных материалов (Si/Ge, InGaAs/InAs, AlN/GaN, YBCO на различных подложках и LuFe(Co)O3/YSZ) показана возможность определения морфологии и атомной структуры границ раздела, механизмовформирования слоев

Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика