Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53/Ф 79
Автор(ы) : Эдельман И. С., Иванова О. С., Заблуда В. Н., Иванцов Р. Д., Бондаренко Г. в., Зайковский В. И.
Заглавие : Формирование магнитных нанокристаллов в Ge-стеклах, допированных Fe и Dy
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 136-142: рис. - ISSN 1195-078. - ISSN 1195-078
Примечания : Библиогр.: с. 142 (21 назв.)
ББК : 53
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): стекла--электронная микроскопия
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Д 38
Автор(ы) : Войцеховский А. В., Несмелов С. Н., Кульчицкий Н. А., Мельников А. А.
Заглавие : Детекторы с квантовыми точками ge/si для инфракрасного диапазона
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4. - С. 39-44: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 44 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): детекторы инфракрасные--точки квантовые--ямы квантовые
Аннотация: Рассмотрены вопросы создания новых типов детекторов на квантовых точках Ge/Si для инфракрасного диапазона: детекторы на основе p-i-n структур, биполярные и полевые фототранзисторы на основе квантовых точек Ge/Si. Потенциальные преимущества новых типов детекторов могут быть использованы при дальнейшем развитии технологий выращивания квантовых точек с заданными размерами, формой и плотностью
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Т 65
Автор(ы) : Ковалевский А. А., Строгова А. С., Плякин Д. В., Цыбульский В. В., Борисевич В. М.
Заглавие : Трансформация германосиликатного стекла в нанокластеры германия
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 2. - С. 18-23: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 23 (24 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: С использованием спектроскопии рамановского рассеивания света, ИК-спектроскопии, высокоразрешающей электронной и атомной силовой микроскопии и анализа дифракции рентгеновских лучей представлены результаты исследований процесса самоорганизации нанокластеров германия в пленках германосиликатного стекла (ТСС)- (SixGeyOz), полученных в процессе окисления и термообработки наноструктурированных пленок поликристаллического кремния, легированного германием (НСПКК (Ge)). Рассмотрен механизм оттеснения Ge в ТСС к границе раздела ТСС - подложка, который включает следующие стадии: расслоение между GeO2 и SiO2, последующее восстановление кремнием и водородом GeO2 до Ge и образование ядер маленьких кристаллитов Ge с их последующим ростом
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 34
Автор(ы) : Козюхин С. А., Шерченков А. А., Новоторцев В. М., Тимошенков С. П.
Заглавие : Материалы фазовой памяти на основе сложных халькогенидов и их применение в устройствах оперативной памяти
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 3-4. - С. 73-81: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 81 (36 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Рассмотрены халькогенидные сплавы системы Ge-Sb-Te с точки зрения их использования в устройствах энергонезависимой фазовой памяти произвольного доступа. Проведен анализ физико-химических свойств кристаллических соединений и аморфных пленок на их основе
Найти похожие

Вид документа :
Шифр издания : 620.3/М 59
Автор(ы) : Васильев А. Л., Роддатис В. В., Пресняков М. Ю., Орехов А. С., Лопатин С., Бондаренко В. И., Ковальчук М. В.
Заглавие : Микроструктура границ раздела в гетеросистемах
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 37-46: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 46 (30 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетеросистемы--микроскопия растровая электронная --микроанализ энергодисперсионный рентгеновский --механизмовформирования слоев--гетероструктура
Аннотация: Представлены результаты исследований структуры границ раздела и тонких пленок в гетероструктурах с использованием просвечивающей и просвечивающей растровой электронной микроскопии с коррекцией сферической аберрации и сверхчувствительного энергодисперсионного рентгеновского микроанализа. На примерах гетероструктур различных материалов (Si/Ge, InGaAs/InAs, AlN/GaN, YBCO на различных подложках и LuFe(Co)O3/YSZ) показана возможность определения морфологии и атомной структуры границ раздела, механизмовформирования слоев
Найти похожие

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)