Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (129)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (6)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (10)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=90$<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ Р 8.700-2010!-260495
62/М 54
Заглавие : Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации . -Офиц. изд.- Введ. с 05.04.2010
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2010
Колич.характеристики :11 с
Коллективы : Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Примечания : Библиогр.: с. 11
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 90.03.37
ББК : 62я861 + 621.0я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ Р 8.630-2007!-194233
62/М 59
Заглавие : Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации . -Офиц. изд.- Введ. с 02.01.2008
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2007
Колич.характеристики :7 с
Коллективы : Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Серия: Государственная система обеспечения единства измерений
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 90.03.37
ББК : 62я861 + 621.0я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ 8.593-2009!-165833
62/Г 72
Заглавие : Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт . -Офиц. изд.- Введ. с 11.11.2009
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2010
Колич.характеристики :7 с
Коллективы : Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС)
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 90.03.37 + 90.03.37
ББК : 62я861 + 621.0я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж1/М 54
Заглавие : Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : учебное пособие для вузов
Выходные данные : М.: Логос, 2011
Колич.характеристики :590 с
ISBN, Цена 978-5-98704-613-5: 1100.00 р.
ГРНТИ : 90
ББК : Ж10я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж1/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с.: ил.
Перевод издания: Leach, R. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. -New York, 2010
Примечания : Библиогр. в конце глав.
ISBN, Цена 978-5-91559-119-5: 1633.00 р.
ГРНТИ : 90
ББК : Ж10я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
  Оглавление
Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/Н 25
Заглавие : Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : [терминол. словарь]
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :135,[1] с
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр.: с. 134-135
ISBN, Цена 978-5-94836-229-8: 339.00 р.
ГРНТИ : 81.09 + 90
ББК : 623.7я21 + 621.0я21
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :ч/з(1)
Свободны : ч/з(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621/С 32
Автор(ы) : Сергеев, Алексей Георгиевич
Заглавие : Нанометрология
Выходные данные : М.: Логос, 2012
Колич.характеристики :413 с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 409-413. - Прил.: с. 397-408
ISBN, Цена 978-5-98704-494-0: 457.60 р.
ГРНТИ : 90
ББК : 621.0
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика