Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИГД УрО РАН
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
 Найдено в других БД:Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Карташев, В. А.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 27

    Карташев, В. А.
    Исследование автономных подвижных микросистем методом подобия / В. А. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 4. - С. 32-35 : ил. - Библиогр. : с. 35 (6 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АВТОНОМНЫЕ МИКРОУСТРОЙСТВА -- ПОДВИЖНОСТЬ -- МАСШТАБНЫЕ КОЭФФИЦИЕНТЫ

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 27

    Карташев, В. А.
    Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 27

    Карташев, В. А.
    Визуализация рельефа поверхности в зондовой микроскопии / В. А. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- МЕТОД ГРАДИЕНТНОЙ ЗАКВАСКИ -- ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ
Аннотация: Приводится решение задачи выбора такой подстилающей плоскости, относительно которой исследуемая поверхность имеет наименьший перепад высот. Проекция измерений на эту плоскость обеспечивает наилучшие условия для визуализации мельчайших объектов методом градиентной закраски. Предлагаемый метод позволяет получать более четкие изображения по сравнению с методом наименьших квадратов, традиционно используемым для выбора подстилающей плоскости в штатном программном обеспечении зондовых микроскопов

Найти похожие
4.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 27

    Карташев, В. А.
    Учет геометрии острия иглы для коррекции измерений туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
51.007.57
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ СТМ -- ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ
Аннотация: Ошибки измерений нанорельефа поверхности туннельным микроскопом обусловлены особенностями работы пьезоприводов и системы управления движением зонда. В результате на изображении измеренной поверхности возможно появление объектов, которые в реальности отсутствуют. Учет геометрии острия иглы при интерпретации измерений позволяет существенно уменьшить вклад указанных ошибок. Рассмотрено действие этого фильтра на примере искажений, возникающих при сканировании элементов рельефа с большими изменениями наклона поверхности

Найти похожие
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика