Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (4)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (3)Изобретения уральских ученых (5)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (2)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (1)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (11)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Пушин, В. Г.$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   П 91


    Пушин, В. Г.
    Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии / В. Г. Пушин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104 : рис., табл. - Библиогр.: с. 104 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОДИАГНОСТИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРНЫЕ И НАНОФАЗНЫЕ -- ПОГРЕШНОСТЬ -- МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ -- НАНОМАТЕРИАЛ -- ДИФРАКЦИЯ
Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН

Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика