Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Инвентарный номер: нет.

   Г 31

    Гелевер, В.
    Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения [Текст] / В. Гелевер // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 20-24 : фото, рис. . - ISSN 1993-8578

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗАЩИТНАЯ КАМЕРА -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
Аннотация: Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется из-за низкого разрешения. Разработка ООО"ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   С 42


    Сканируя нанопрстранство... Революционная премьера от CARL ZEISS! [Текст] // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 26-28 : фото . - ISSN 1993-8578

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОП -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   М 92

    Мухин, Д.
    Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Б 14

    Багров, Д.
    Атомно-силовая микроскопия деформаций полимерных материалов [Текст] / Д. Багров, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 5. - С. 32-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДЕФОРМАЦИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ -- АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   С 69

    Сошников, А. И.
    Исследование и модифицирование полупроводниковых структур алмазными токопроводящими зондами [] / А. И. Сошников // Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 72-76 : рис. - Библиогр.: с. 76 (7 назв.) . - ISSN 1816-4498

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   И 88


    Исследование нанокомпозитов на основе опалов с помощью комплекса нанотехнологического оборудования "Умка" [] / Н. О. Алексеева [и др.] // Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 9-11 : рис. - Библиогр. : с. 11 (21 назв.) . - ISSN 1816-4498

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Б 95

    Быков , В. А.
    Учебно-исследовательская мини-лаборатория по нанотехнологии на базе сканирующего зондового микроскопа "НАНОЭДЬЮКАТОР" / В. А. Быков , В. Н. Васильев , А. О. Голубок // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 51-58. - Библиогр. : с. 58 (21 назв.) . - ISSN 1195-078

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИИ (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП -- ПЬЕЗОСКАНЕР

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   О-62


    Оптические свойства наноструктурированных пленок a-C:H:Si / В. Д. Фролов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 138-143 : рис. - Библиогр. : с. 143 (25 назв.) . - ISSN 1195-078

ББК 623.7
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ ПЛЕНКИ -- ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП -- КЛАСТЕРНАЯ СТРУКТУРА

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   П 54

    Поляков, В. В.
    Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10 : рис., табл. - Библиогр. : с. 10 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ ЕМКОСТНАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОП ЗОНДОВЫЙ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ -- ПРОФИЛЬ ЛЕГИРОВАНИЯ

Найти похожие

10.

Инвентарный номер: нет.

   Н 25


    Наноиндентирование углеродных нанотрубок, пропитанных расплавом алюминия под давлением / С. М. Аракелян, В. Ф. Коростелев [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 9. - С. 2-4 : рис. - Библиогр. : с. 4 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДИКА РЕЗОНАНСНЫХ АВТОКОЛЕБАНИЙ -- ОПРЕССОВКА ИЗОСТАТИЧЕСКАЯ В РАСПЛАВЕ -- СВОЙСТВА ПОВЕРХНОСТИ
Аннотация: В описываемой работе процесс компактирования осуществлен путем пропитки капсулы, наполненной УНТ, в расплаве алюминия при температуре 850 °C под давлением 400 МПа. Для исследования свойств методом наноиндентирования использовали сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) Солвер НЕКСТ, производства NT-MDT, Зеленоград, Москва. Приведены результаты измерений, сравнение которых с литературными данными дает важную информацию для синтеза новых материалов

Найти похожие

11.

Инвентарный номер: нет.

   К 27

    Карташев, В. А.
    Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра

Найти похожие

12.

Инвентарный номер: нет.

   Ф 79


    Формирование суперкластеров нанооксидов титана под острием сканирующего туннельного микроскопа / М. В. Гришин, С. А. Ковалевский, Ф. И. Далидчик, А. К. Гатин // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 51-53 : рис. - Библиогр. : с. 53 (10 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ -- СУПЕРКЛАСТЕРЫ ОКСИДНЫЕ -- ЛИТОГРАФИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: В высоковакуумных экспериментах (Р = 5*10-10 мбар) под острием сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) на поверхности окисленного титана обнаружено формирование оксидных суперкластеров с размерами до нескольких десятков нанометров. Установлены зависимости размеров нанокластеров от основных параметров сканирования (величины, полярности и длительности импульсов напряжения, подававшихся на наноконтакт). Показано, что рост оксидных суперкластеров возможен как при положительных, так и при отрицательных значениях полярности. Полученные результаты, расширяющие возможности современной зондовой литографии, - первый пример формирования в условиях сверхвысокого вакуума на поверхности окисленных металлов наноразмерных оксидных структур

Найти похожие

13.

Инвентарный номер: нет.

   В 58


    Влияние контаминации в РЭМ на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона / В. П. Гавриленко [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 2. - С. 2-6 : рис. - Библиогр. : с. 6 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕМЕНТЫ РЕЛЬЕФНЫЕ -- ДИАПАЗОН НАНОМЕТРОВЫЙ -- МИКРОСКОП РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ -- КОНТАМИНАЦИЯ
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 на профиль рельефных элементов меры нанометрового диапазона МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения изменяется форма профиля рельефных элементов, представлены зависимости их параметров от дозы электронного облучения для разных режимов облучения

Найти похожие

14.

Инвентарный номер: нет.

   К 95

    Кучеренко, М. Г.
    Возможности улучшения характеристик сканирующего ближнепольного оптического микроскопа за счет плазмонно-резонансного увеличения скорости безызлучательного переноса энергии / М. Г. Кучеренко, Д. А. Кислов, Т. М. Чмерева // Российские нанотехнологии. - 2012. - № 3-4. - С. 111-117 : рис. - Библиогр. : с. 117 (32 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ БЛИЖНЕПОЛЬНЫЙ -- НАНОСТРУКТУРЫ -- ЭФФЕКТ FRET -- ФОРМАЛИЗМ МУЛЬТИПОЛЬНЫХ ПОЛЯРИЗУЕМОСТЕЙ
Аннотация: Обсуждается проблема повышения качества изображения, создаваемого сканирующим ближнепольным оптическим микроскопом с FRET-модулем (Forster Resonance Energy Transfer). Анализируется возможность улучшенного разрешения ближнепольного оптического микроскопа за счет эффекта FRET, а также формирование высококачественных изображений нанообъектов на основе сигналов повышенной интенсивности, получаемых за счет плазмонного резонанса в специально сформированных металлических наноструктурах (антеннах плазмонного резонанса). Приведены результаты исследований безызлучательного переноса энергии электронного возбуждения между молекулами, размещенными вблизи плоской поверхности проводника, металлического наноцилиндра нанометрового радиуса и около сферической наночастицы. В простейшей модели влияние границы проводящей фазы учитывается введением эффективного диполя-изображения. Для антенн — сфероидных наночастиц более адекватным представлением отклика является формализм мультипольных поляризуемостей

Найти похожие

15.

Инвентарный номер: нет.

   В 58


    Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона / В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 2-5 : рис. - Библиогр.: с. 5 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДОЗА ЭЛЕКТРОННОГО ОБЛУЧЕНИЯ -- ЭЛЕМЕНТЫ РЕЛЬЕФНЫЕ -- КОНТАМИНАЦИЯ -- МИКРОСКОП НИЗКОВОЛЬТНЫЙ РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 при энергии электронов 1 кэВ на профиль рельефных элементов меры МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения увеличивается ширина нижнего основания рельефных элементов и получены зависимости ширины нижнего основания от дозы электронного облучения при разных режимах облучения. Приведены результаты влияния режима облучения на толщину контаминационной пленки

Найти похожие

16.

Инвентарный номер: нет.

   Е 33


    Единичные наночастицы алюминия, золота, никеля и платины, осажденные на поверхности пиролитического графита / А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 39-45 : рис. - Библиогр.: с. 45 (28 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ГРАФИТ ПИРОЛИТИЧЕСКИЙ -- СПЕКТРОСКОП -- МИКРОСКОП -- НАНОЧАСТИЦЫ АЛЮМИНИЯ, ЗОЛОТА, НИКЕЛЯ И ПЛАТИНЫ -- ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ -- МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ И СПЕКТРОСКОПИИ -- ВОДОРОД -- НАНОЧАСТИЦЫ
Аннотация: Методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, а также оже-спектроскопии и масс-спектрометрии определены физико-химические свойства наночастиц алюминия, золота, никеля и платины. Установлены их геометрические размеры, электронное строение, химический состав поверхности. На примере взаимодействия водорода с наночастицами золота, никеля и платины определены теплота адсорбции и эффективная энергия активации

Найти похожие

17.

Инвентарный номер: нет.

   К 17


    Калибровка просвечивающих электронных микроскопов с помощью ГСО 10030—2011 / Д. С. Бодунов, А. В. Заблоцкий, В. П. Гавриленко, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 3. - С. 11-13 : рис. - Библиогр.: с. 13 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОП ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ jem-2100 -- КАЛИБРОВКА -- ОБРАЗЕЦ СТАНДАРТНЫЙ -- НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ ПРИ КАЛИБРОВКЕ
Аннотация: Изложены результаты калибровки просвечивающего электронного микроскопа JEM-2100 с помощью стандартного образца ГСО 10030—2011, разработанного и изготовленного в Научно-исследовательском центре по изучению свойств поверхности и вакуума, при номинальном значении увеличения 30 000 крат. Относительная расширенная (коэффициент охвата k = 2) неопределенность измерений при калибровке составила 0,5 %

Найти похожие

18.

Инвентарный номер: нет.

   Ч-19

    Чаплыгин, Ю. А.
    Исследование влияния конструктивных параметров кантилеверов на чувствительность метода магнитной силовой микроскопии / Ю. А. Чаплыгин, В. И. Шевяков // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 3-4. - С. 71-75 : рис., табл. - Библиогр.: с. 75 (12 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
КАНТИЛЕВЕР -- МЕТОД МАГНИТНОЙ СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ -- ТОЛЩИНА МАГНИТНОГО ПОКРЫТИЯ -- ЧАСТИЦЫ ЖЕЛЕЗА -- МИКРОСКОП
Аннотация: Представлены результаты исследования влияния конструктивных параметров кантилеверов на чувствительность метода магнитной силовой микроскопии. Показано, что для обеспечения максимальной чувствительности метода необходимо использовать кантилеверы с толщиной магнитного покрытия и жесткостью балки, лежащей в диапазоне от 0.1 до 1.0 Н/м. При использовании данных кантилеверов удалось зарегистрировать локально расположенные однодоменные частицы железа размером ~50 нм

Найти похожие

19.

Инвентарный номер: нет.

   И 88


    Исследование источников случайных погрешностей в измерительном сканирующем зондовом микроскопе «НаноСкан-3Di» / К. В. Гоголинский, К. Л. Губский, А. П. Кузнецов, В. Н. Решетов // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 56-59 : рис., табл. - Библиогр.: с. 59 (6 назв.) . -

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДИАПАЗОН НАНОМЕТРОВЫЙ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ -- МИКРОСКОП «НАНОСКАН-3DI» -- ПОГРЕШНОСТИ -- ИНТЕРФЕРОМЕТР ТРЕХКООРДИНАТНЫЙ ГЕТЕРОДИННЫЙ ЛАЗЕРНЫЙ -- ВОСПРОИЗВОДИМОСТЬ
Аннотация: Кратко описано устройство и принцип работы измерительного сканирующего зондового микроскопа «НаноСкан-3Di». Прибор создан путем сопряжения серийного СЗМ «НаноСкан-3D» и трехкоординатного гетеродинного лазерного интерферометра. Проведено исследование метрологических характеристик и основных источников случайных погрешностей данного измерительного комплекса. Экспериментальные исследования продемонстрировали высокую воспроизводимость и низкий уровень шумов при измерениях линейных размеров в нанометровом диапазоне

Найти похожие

20.

Инвентарный номер: нет.

   П 78


    Проблемы метрологического обеспечения методики измерений структуры твердых образцов на атомно-силовом микроскопе с нанометровым разрешением / С. С. Гоц, Р. З. Бахтизин, Г. И. Журавлев, С. А. Севницкий // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 60-63 : рис. - Библиогр.: с. 63 (15 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Дескрипторы: ДИФРАКТОМЕТРЫ -- МИКРОСКОП АТОМНО-СИЛОВОЙ -- РАЗРЕШЕНИЕ НАНОМЕТРОВОЕ -- ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ ОПТИЧЕСКИЕ -- НАНОМЕТР -- КАЛИБРОВКА
Аннотация: Рассмотрены проблемы метрологического обеспечения при создании методики измерения структуры твердых тел с нанометровым разрешением. Показано, что для калибровки атомно-силовых микроскопов в настоящее время используются эталонные меры длины, созданные на основе волновых методов. Применяемые в настоящее время оптические интерферометры, рентгеновские дифрактометры и другие волновые методы пока не способны обеспечить получение эталонных мер длины в 1 нм и менее. В связи с этим имеющиеся литературные данные о межатомных расстояниях твердых тел пока нельзя рассматривать как точные численные оценки истинных значений

Найти похожие

21.

Инвентарный номер: нет.

   П 91

    Пушин, В. Г.
    Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии / В. Г. Пушин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104 : рис., табл. - Библиогр.: с. 104 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОДИАГНОСТИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРНЫЕ И НАНОФАЗНЫЕ -- ПОГРЕШНОСТЬ -- МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ -- НАНОМАТЕРИАЛ -- ДИФРАКЦИЯ
Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН

Найти похожие

22.

Инвентарный номер: нет.

   И 37


    Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ / А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, М. А. Кожушнер, В. С. Посвянский, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 51-60 : рис., табл. - Библиогр.: с. 60 (26 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПЛЕНКИ ТОНКИЕ ОКСИДНЫЕ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- СТРУКТУРА -- ПЛЕНКИ -- СТМ
Аннотация: В работе представлен способ определения локальных толщин и параметров электронной структуры тонких оксидных пленок, а также абсолютных значений расстояния между острием сканирующего туннельного микроскопа и поверхностью исследуемого образца

Найти похожие

23.

Инвентарный номер: нет.

   К 27

    Карташев, В. А.
    Учет геометрии острия иглы для коррекции измерений туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

51.007.57

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ СТМ -- ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ
Аннотация: Ошибки измерений нанорельефа поверхности туннельным микроскопом обусловлены особенностями работы пьезоприводов и системы управления движением зонда. В результате на изображении измеренной поверхности возможно появление объектов, которые в реальности отсутствуют. Учет геометрии острия иглы при интерпретации измерений позволяет существенно уменьшить вклад указанных ошибок. Рассмотрено действие этого фильтра на примере искажений, возникающих при сканировании элементов рельефа с большими изменениями наклона поверхности

Найти похожие

24.

Инвентарный номер: нет.

   Ф 15

    Фадеев, М.
    Решения для высококачественного анализа микро- и наноструктур / М. Фадеев // Наноиндустрия. - 2014. - № 1(47). - С. 26-32 . - ISSN 1993-8578

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРОБОПОДГОТОВКА -- ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП
Аннотация: Необходимым условием для качественного анализа микро- и наноструктур является правильная подготовка образцов. Проблема актуальна во многих высокотехнологичных областях: в полупроводниковом производстве, при изготовлении МЭМС и в научных исследованиях.

Найти похожие

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)