Центральная Научная Библиотека УрО РАН

ББК 648.441я73
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- НАНОТРАНЗИСТОРЫ (ОСНОВЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- КОМПЬЮТЕРЫ КВАНТОВЫЕ

Найти похожие

Инвентарный номер: U-12007 - кх.
   57
   F 97


    Functional Micro- and Nanosystems [Text] : proccedings of the 4th caesarium, Bonn, June 16-18, 2003 / ed. K.-H. Hoffmann. - Berlin [et al.] : Springer, 2004. - VIII, 131 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце разд. - ISBN 3-540-21612-X : 3034.00 р.

ГРНТИ

34.01

ББК 570.72я431(0) + 648.441я431(0)
Рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ--ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ--КОНФЕРЕНЦИИ
РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
БИОЛОГИЯ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- НАНОСИСТЕМЫ (БИОЛОГИЯ) -- ДНК (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- БИОСЕНСОРЫ (НАНОСИСТЕМЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ПРИМЕНЕНИЕ)

Найти похожие

Инвентарный номер: 199198 - кх.
   648.4
   Д 72

    Драгунов, Валерий Павлович.
    Основы наноэлектроники [] : учеб. пособие / В. П. Драгунов, И. Г. Неизвестный, В. А. Гридчин ; [ред. Ю. А. Афанасьев [и др.]. - Новосибирск : НГТУ, 2004. - 494 с. : ил. - (Учебники НГТУ). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 5-7782-0387-X : 263.00 р.

ГРНТИ

Инвентарный номер: U-12493 - кх.
   541.1
   N 11

    Nabok, Alexei.
    Organic and Inorganic Nanostructures [Text] : научное издание / A. Nabok. - Boston ; London : Artech House, 2005. - VII, 268 p. : ил. - (Nanotechnology Series). - Библиогр. в конце разд. - Указ.: с. 263-268. - ISBN 1-58053-818-5 : 3175.00 р.

ГРНТИ

31.15.19

31.15

ББК 541.171 + 541.192
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРЫ (ХИМИЯ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ) -- ХИМИЯ ОРГАНИЧЕСКАЯ (НАНОЧАСТИЦЫ) -- ХИМИЯ НЕОРГАНИЧЕСКАЯ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- БИОДАТЧИКИ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОСТРУКТУРЫ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ХИМИЯ)

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Д 48


    Дисплей: тонкий и гибкий, как бумага [Текст] // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 34

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОСТРУКТУРЫ) -- КОМПЬЮТЕРНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
Аннотация: Все больше внимания уделяется пластиковым компьютерным микросхемам, что обусловлено их удобством применения в микролектронике. Это гибкие пластиковые мониторы, электронная бумага, гибкие персональные компьютеры и многое другое. Причем технология изготовления органических микросхем обещает, что они будут дешевыми

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   А 95

    Ахметов, Д. Г.
    Микроэлектромеханические электростатические высокопроизводительные инжекторы микроструй жидкости [Текст] / Д. Г. Ахметов, Э. Г. Косцов, А. А. Соколов // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 53-59 : рис. - Библиогр.: с. 59-60 (47 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОИНЖЕКТОРЫ -- МИКРОАКТЮАТОР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОСТРУЙНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Т 99

    Тягунов , О. А.
    Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем [Текст] / О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 19-25 : рис. - Библиогр.: с. 25 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОМЕХАНИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   М 92

    Мухин, Д.
    Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью

Найти похожие

Инвентарный номер: 201879 - кх.
   648.6
   М 29

    Мартинес-Дуарт, Дж. М.
    Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники [] : переводное издание / Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - М. : Техносфера, 2007. - 367 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Nanotechnology for Microelectronics and Optoelectronics / J. M. Martinez-Duart, R. J. Martin-Palma, F. Agullo-Rueda. - Amsterdam, s. a. - ISBN 978-5-94836-126-0 : 284.34 р.

ГРНТИ

29.19

31.15.19

ББК 648-53-03 + 539.2 + 541.171
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--КВАНТОВАЯ РАДИОТЕХНИКА
ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОПТОЭЛЕКТРОНИКА) -- ОПТОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (МИКРОЭЛЕКТРОНИКА) -- ФИЗИКА МЕЗОСКОПИЧЕСКАЯ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- УСТРОЙСТВА ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ (НАНОСИРУКТУРЫ) -- ПРИБОРЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ (НАНОСТРУКТУРЫ)

Найти похожие

10.

Инвентарный номер: нет.

   Р 76


    Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ [] / В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ

Найти похожие

11.

Инвентарный номер: нет.

   И 88


    Использование метода диэлектрофореза при формировании интегральных структур на основе нанотрубок [Текст] / И. И. Бобринецкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 10-13. - Библиогр. : с. 13 (22 назв.) . - ISSN 1813-8586

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТРУБКИ -- СЕНСОРЫ -- ДИЭЛЕКТРОФОРЕЗ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Найти похожие

12.

Инвентарный номер: нет.

   Ш 89

    Штенников, В. Н.
    Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО

Найти похожие

13.

Инвентарный номер: нет.

   A 31


    ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению / Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12. : ил. . - ISSN 1993-8578

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОЛЕКУЛЯРНАЯ СБОРКА -- СВЕРХТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Найти похожие

14.

Инвентарный номер: 205023 - кх; 205024 - ИМЕТ.
   623
   Б 20

    Балабанов, Виктор Иванович.
    Нанотехнологии. Наука будущего [] : научное издание / В. Балабанов. - М. : Эксмо, 2009. - 246, [1] с. - (Открытия, которые потрясли мир). - Библиогр.: с. 236-239. - ISBN 978-5-699-30976-4 : 180.00 р.

ГРНТИ

29.19.22

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Найти похожие

15.

Инвентарный номер: 204955 - кх.
   648.4
   К 66

    Кормилицын, Олег Иванович.
    Механика материалов и структур нано- и микротехники [] : учеб. пособие для вузов / О. И. Кормилицын, Ю. А. Шукейло. - М. : Академия, 2008. - 215, [9] с. : граф., рис., табл. - (Высшее профессиональное образование. Радиоэлектроника). - Библиогр.: с. 210-214. - ISBN 978-5-7695-4093-6 : 402.00 р.

ГРНТИ

31.15.19

ББК 648.441я73 + 541.171я73
Рубрики: РАДИОТЕХНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

16.

Инвентарный номер: нет.

   А 94

    Штенников, В. Н.
    Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции

Найти похожие

17.

Инвентарный номер: нет.

   М 74


    Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники / Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23 : рис., табл. - Библиогр. : с. 23 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ТВЕРДЫЕ -- ОБРАБОТКА ПОВЕРХНОСТНАЯ КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах

Найти похожие

18.

Инвентарный номер: 208686 - кх.
   648.4
   В 24

    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9.
   Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 386-389. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 360.00 р.

ГРНТИ

ББК 648.441я73
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

19.

Инвентарный номер: нет.
   62
   Г 72ГОСТ 8.593-2009


    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -

ГРНТИ

90.03.37

ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие

20.

Инвентарный номер: нет.

   С 60

    Соловьев, В. В.
    Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности [] / В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛЕЙКОСАПФИР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- КВАЗИПЛАС ОБРАБОТКА КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ПОДЛОЖКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность

Найти похожие

21.

Инвентарный номер: 210426 - кх.
   648.4
   В 24

    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9.
   Т. 2 : Технологические аспекты / М. В. Акуленок [и др.]. - 2011. - 252 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 243-248. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 303.60 р.

ГРНТИ

ББК 648.441я73
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

22.

Инвентарный номер: нет.

   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике

Найти похожие

23.

Инвентарный номер: нет.

   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - Библиогр. : с. 6 (18 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- МЕТРОЛОГИЯ РАЗМЕРНАЯ -- АСМ -- РЭМ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов

Найти похожие

24.

Инвентарный номер: нет.
   Пр 68-1/19


    Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. В. Ф. Лукичев. - М. : Наука, 2008. - 246, [1] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 19). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 70-летию со дня рождения действительного члена РАН А. А. Орликовского. - Б. ц.

ГРНТИ

ББК 648.441я43(2)
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ

Найти похожие

25.

Инвентарный номер: нет.
   Пр 68-1/20


    Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. А. А. Орликовский. - М. : Наука, 2009. - 173, [2] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 20). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 20-летию Физико-технологического инстиута РАН. - Б. ц.

ГРНТИ

ББК 648.441я43(2)
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ

Найти похожие

26.

Инвентарный номер: нет.
   62
   М 59ГОСТ Р 8.630-2007


    Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -

ГРНТИ

90.03.37

ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие

27.

Инвентарный номер: 212331 - кх.
   648.4
   А 94

    Афонский, А. А.
    Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике [] : монография / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687, [1] с. - Библиогр.: с. 679-688. - ISBN 978-5-94074-626-3 : 892.65 р.

ГРНТИ

ББК 648.441
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА

Найти похожие

28.

Инвентарный номер: 213149 - кх.
   648.4
   Б 26

    Барыбин, Анатолий Андреевич.
    Физико-технологические основы макро-, микро- и наноэлектроники [] : учебное пособие для вузов / А. А. Барыбин, В. И. Томилин, В. И. Шаповалов ; под общ. ред. А. А. Барыбина. - М. : Физматлит, 2011. - 782 с. - Предм. указ.: с. 773-782. - ISBN 978-5-9221-2 : 783.75 р.

ГРНТИ

ББК 648.441я73
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

29.

Инвентарный номер: 213472 - кх.
   648.4
   Т 18

    Таперо, Константин Иванович.
    Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения [] : курс лекций / К. И. Таперо ; Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. полупроводниковой электроники и физики полупроводников. - М. : Изд. Дом МИСиС, 2011. - 251 с. - (Национальный исследовательский технологический университет МИСиС ; № 1896). - Библиогр.: с. 249-251. - ISBN 978-5-87623-415-5 : 236.94 р.

ГРНТИ