Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (94)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (4)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (4)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (69)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>S=ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Инвентарный номер: 207960 - ч/з.
   623
   Н 25


   
    Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях [] : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135,[1] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. - ISBN 978-5-94836-229-8 : 339.00 р.
ГРНТИ
ББК 623.7я21 + 621.0я21
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СЛОВАРИ
   ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ


Найти похожие

2.
Инвентарный номер: 214280 - пф.
   621
   С 32


    Сергеев, Алексей Георгиевич.
    Нанометрология [] : монография / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2012. - 413 с. : рис. - Библиогр.: с. 409-413. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 457.60 р.
Прил.: с. 397-408
ГРНТИ
ББК 621.0
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ

Найти похожие

3.
Инвентарный номер: 218717 - пф.
   Ж1
   М 54


   
    Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.
ГРНТИ
ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

4.
Инвентарный номер: 220579 - пф.
   Ж1
   Л 66


    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.
ГРНТИ
ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

  Оглавление
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика