Е 30 Егоров, В. В. Вопросы моделирования многомерных нано- и микроструктур / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 1. - С. 15-20. - Библиогр. : с. 20 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: МАТЕМАТИКА Кл.слова (ненормированные): ПОЛЕ -- ПРОЦЕСС ПУАСОНОВСКИЙ -- АЛГОРИТМ -- МАЖОРАНТ -- ПРОЦЕСС СТОХАСТИЧЕСКИЙ |
Е 30 Егоров, В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - Библиогр. : с.54 ( 3 наим.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СДВИГ -- ПОЛЕ -- СИГНАЛ -- АЛГОРИТМ Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах |
Б 83 Боронахин, А. М. Коррекция влияния линейного ускорения на показания микромеханического гироскопа / А. М. Боронахин, П. А. Иванов, И. Л. Суров // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 41-44 : рис. - Библиогр. : с.44 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАВИГАЦИЯ ИНЕРЦИАЛЬНАЯ -- МОДЕЛЬ ПОГРЕШНОСТЕЙ МАТЕМАТИЧЕСКАЯ -- ГИРОСКОП МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ Аннотация: Предложена математическая модель погрешностей, описывающая влияние линейного ускорения на показания микроскопов, и алгоритм его коррекции. Объектом испытаний выступал инерциальный измерительный модуль на базе чувствительных элементов производства компании Analog Devices. Исследование доводилось на малогабаритном двухосном стенде, разработанном кафедрой "Лазерных измерительных и навигационных систем" СПбГЭТУ "ЛЭТИ" |
Б 83 Боронахин, А. М. Применение микромеханических датчиков для диагностики рельсового пути / А. М. Боронахин, Л. Н. Подгорная // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 8. - С. 47-50 : рис. - Библиогр. : с. 50 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДИАГНОСТИКА ПУТИ -- АКСЕЛЕРОМЕТР МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ -- МОДУЛЬ ИНЕРЦИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ Аннотация: Рассматривается возможность использования микромеханических акселерометров и гироскопов в диагностике состояния железнодорожного пути. Разработан алгоритм определения вертикальных неровностей рельсовых нитей. Приводятся результаты экспериментального проезда системы |
И 74 Информационно-измерительные системы ориентации на микромеханических чувствительных элементах для вращающихся по крену летательных аппаратов / В. Я. Распопов [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 12 . - С. 26-30 : рис. - Библиогр. : с. 30 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДАТЧИКИ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЕ -- АППАРАТЫ ЛЕТАТЕЛЬНЫЕ -- РАКЕТА Аннотация: Исследуется возможность использования микромеханических гироскопов и акселерометров на борту вращающихся по крену беспилотных летательных аппаратов. Предлагается алгоритм получения измерительной информации для решения задач стабилизации и управления вращающимися по крену летательными аппаратами?? |
С 52 Смыков, И. Т. Комплексная оценка свойств наноматериалов, представляющих потенциальную опасность для живых организмов / И. Т. Смыков, А. В. Яковлев, И. В. Гмошинский // Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 97-103 : рис. - Библиогр. : с. 103 (8 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОМАТЕРИАЛЫ -- ОПАСНОСТЬ -- ТОКСИЧНОСТЬ Аннотация: В статье приводится методология, алгоритм и описание компьютерной программы «NANO toxic» системного автоматизированного анализа и документирования расчетов потенциальной опасности наноматериалов для живых организмов, разработанная на основе подхода, содержащегося в действующих нормативно-методических документах Роспотребнадзора и основанная на расчете взвешенных оценок группированных и ранжированных свойств наноматериалов |
К 48 Клевлеев, В. М. Использование компьютерного моделирования в решении задач компактирования наноразмерных материалов / В. М. Клевлеев, В. В. Колтунов, И. А. Кузнецова // Нанотехника. - 2011. - № 3. - С. 21-23 : табл., рис. - Библиогр. : с. 23 (4 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОЛУЧЕНИЕ НАНОМАТЕРИАЛОВ -- АЛГОРИТМ -- МОДЕЛИРОВАНИЕ КОМПЬЮТЕРНОЕ -- ПРЕССОВАНИЕ -- МЕТОД КРИОХИМИЧЕСКИЙ Аннотация: В работе представлены результаты уплотнения ультрадисперсных и наноразмерных порошков различных веществ. Полученные данные применены для компьютерного моделирования процесса волочения |
Д 44 Дизайн полностью фотонных молекулярных логических вентилей на основе супрамолекулярной бис-стирилхинолиновой диады / М. Ф. Будыка, Н. И. Поташова, Т. Н. Гавришова, В. М. Ли // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 89-95 : рис., табл. - Библиогр.: с. 95 (21 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ВЕНТИЛИ ЛОГИЧЕСКИЕ МОЛЕКУЛЯРНЫЕ -- МЛВ -- РЕАКЦИЯ ФОТОИЗОМЕРИЗАЦИИ СТИРИЛХИНОЛИНОВЫХ ФРАГМЕНТОВ -- ФОТОНЫ -- ГОМОГЕННОСТЬ -- ДИАДА S3S Аннотация: Рассмотрен алгоритм дизайна полностью фотонных двухадресных молекулярных логических вентилей (МЛВ) на основе супрамолекулярной бис-стирилхинолиновой диады S3S, в которой два фрагмента 2-(4-оксистирил)хинолина связаны между собой триметилено-вым «мостиком». Для переключения между состояниями МЛВ используется реакция фотоизомеризации стирилхинолиновых фрагментов, а считывание выходного сигнала производится по поглощению или люминесценции этих фрагментов. В последнем случае как входными, так и выходными сигналами для МЛВ являются фотоны, т.е. достигается гомогенность входных и выходных сигналов, что является необходимым условием для построения из таких вентилей более сложных цепей. Показано, что диада S3S моделирует действие логических вентилей «И» (AND), «ИЛИ» (OR), «НЕ-И» (NAND), «НЕ-ИЛИ» (NOR), «ИМПЛИКАЦИЯ» (IMP), «ЗАПРЕТ» (INH) |
Р 17 Разработка метрологического комплекса для аттестации существующих и вновь разрабатываемых экспресс-тестов. метод градуировочных характеристик для построения калибровочных кривых экспресс-тестов / С. С. Голубев, Ю. А. Кудеяров, В. М. Малюченко, А. В. Жерлев, Н. И. Смирнова, Д. В. Сотников // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 105-109 : рис. - Библиогр.: с. 109 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЭКСПРЕСС-ТЕСТЫ ИММУНОХРОМАТОГРАФИЧЕСКИЕ -- БЕНЗОДИАЗИПИНЫ -- ВЕЛИЧИНА -- МЕТОД ГРАДУИРОВОЧНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК -- КРИВЫЕ КАЛИБРОВОЧНЫЕ -- КОМПЛЕКС МЕТРОЛОГИЧЕСКИЙ -- АТТЕСТАЦИЯ Аннотация: В настоящей работе описывается созданный метрологический комплекс для аттестации иммунохроматографических экспресс-тестов. Он позволяет определять градуировочные характеристики экспресс-тестов, вычислять риски ложного срабатывания и определять параметры компонентов создаваемых тест-систем. Его применение позволяет говорить о результатах количественных экспресс-тестов как о метрологически обеспеченных величинах. Кроме того, в настоящей работе детально рассмотрен алгоритм построения градуировочных характеристик экспресс-тестов, изложенный в соответствующей методике измерений, входящей в состав метрологического комплекса на примере двух тест-систем для бензодиазипинов и для маркеров туберкулеза |