538 Н 40 Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [] / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2005. - 147, [1] с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 : 305.00 р. РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ (ЗОНДОВАЯ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА (МИКРОСКОПЫ) -- ЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ (МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ) |
Л 87 Лучинин, В. В. Наноиндустрия и "Человеческий капитал" [Текст] / В. В. Лучинин // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 6-13 : рис. . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОИНДУСТРИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МЕЖДИСЦИПЛИНАРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ |
М 92 Мухин, Д. Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью |
Т 38 Технологии производства новых материалов и устройств с углеродными нанотрубками в качестве рабочих элементов [Текст] / О. Синицына [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 20-23 : рис., табл. - Библиогр.: с. 23 (12 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАСЫЩАЕМЫЕ ПОГЛОТИТЕЛИ Аннотация: Уникальные физико-химические свойства углеродных нанотрубок (УНТ) уже более 15 лет притягивают внимание ученых всего мира. Близки к коммерциализации прозрачные проводящие пленки на основе УНТ, используемые в производстве сенсорных панелей и дисплеев; нагревающиеся стекла для автомобилей и декоративных нагревателей; высокопрочные и легкие композиты для самолето- и автомобилестроения, производства спортивных принадлежностей, баллонов и контейнеров; материалы для химических источников тока; полевые эмиттеры; сенсорные структуры |
З-84 Зондовая микроскопия вирусов : нанотехнологии и медицина [] / А. Сушко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 28-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (17назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ |
С 38 Синицина, О. Анализ и распознавание графической информации в наноскопии / О. Синицина, А. Филонов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 14-20 : ил. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.) . - ISSN 1993-8578 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ОПТИЧЕСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ |
П 54 Поляков, В. В. Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10 : рис., табл. - Библиогр. : с. 10 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ЕМКОСТНАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОП ЗОНДОВЫЙ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ -- ПРОФИЛЬ ЛЕГИРОВАНИЯ |
К 27 Карташев, В. А. Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра |
Ф 79 Формирование суперкластеров нанооксидов титана под острием сканирующего туннельного микроскопа / М. В. Гришин, С. А. Ковалевский, Ф. И. Далидчик, А. К. Гатин // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 51-53 : рис. - Библиогр. : с. 53 (10 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ -- СУПЕРКЛАСТЕРЫ ОКСИДНЫЕ -- ЛИТОГРАФИЯ ЗОНДОВАЯ Аннотация: В высоковакуумных экспериментах (Р = 5*10-10 мбар) под острием сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) на поверхности окисленного титана обнаружено формирование оксидных суперкластеров с размерами до нескольких десятков нанометров. Установлены зависимости размеров нанокластеров от основных параметров сканирования (величины, полярности и длительности импульсов напряжения, подававшихся на наноконтакт). Показано, что рост оксидных суперкластеров возможен как при положительных, так и при отрицательных значениях полярности. Полученные результаты, расширяющие возможности современной зондовой литографии, - первый пример формирования в условиях сверхвысокого вакуума на поверхности окисленных металлов наноразмерных оксидных структур |
В 58 Влияние внешних магнитных полей на информационную магнитную структуру современных жестких дисков / С. В. Герус, Ю. В. Гуляев [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОЛЯ МАГНИТНЫЕ ВНЕШНИЕ -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ -- НАКОПИТЕЛЬ НА ЖЕСТКОМ МАГНИТНОМ ДИСКЕ Аннотация: Рассмотрены экспериментальные исследования магнитной структуры фрагментов записи на накопителе на жестких магнитных дисках (НЖМД) различной емкости и изучена ее устойчивость к воздействию магнитного поля различной напряженности и ориентации. Условиями, определяющими устойчивость жестких дисков к внешним магнитным полям, являются коэрцитивная сила применяемых магнитных материалов и степень экранирования импульсного магнитного поля корпусом и конструктивными элементами жесткого диска |
623 П 53 Получение и исследование наноструктур [] : лабораторный практикум по нанотехнологиям / под ред. А. С. Сигова. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - 146 с. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с. 143-146. - ISBN 978-5-9963-0028-4 : 240.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ--УЧЕБНИКИ |
623 С 74 Справочник по микроскопии для нанотехнологии [] : справочное издание / МГУ им. М. В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред. Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - М. : Научный мир, 2011. - 711 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники). - Библиогр.: с. 692-693. - Предм. указ.: с. 702-711. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - Boston [et al.], 2005. - ISBN 978-5-91522-232-7 : 2000.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ--СПРАВОЧНИКИ |
М 20 Малышев, К. В. Зондовый диэлектрофорез наночастиц в жидкости / К. В. Малышев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 6-13 : рис. - Библиогр. : с. 13 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОЧАСТИЦА -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ ЗОНДОВАЯ -- ДИНАМИКА МОЛЕКУЛЯРНАЯ -- ФУНКЦИЯ ГРИНА -- НАНОФЛЮИДИКА -- ДИЭЛЕКТРОФОРЕЗ Аннотация: Методом молекулярной динамики исследована сборка проводящих наночастиц в кластеры при зондовом диэлектрофорезе в жидкости. Диэлектрофоретическая сила рассчитывалась методом граничных элементов с применением функций Грина. Рассмотрены основные стадии сборки - медленная диффузионная и быстрая дрейфовая. Описаны преимущества зондов с большим радиусом острия 100 нм. Результаты найдут применение в зондовых методах нанотехнологии, наномеханике и нанофлюидике |
623 П 53 Получение и исследование наноструктур [] : лабораторный практикум по нанотехнологиям : учеб. пособие / под ред. А. С. Сигова. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. - 146 с. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с. 143-146. - ISBN 978-5-9963-0228-4 : 287.50 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ--УЧЕБНИКИ |
К 27 Карташев, В. А. Визуализация рельефа поверхности в зондовой микроскопии / В. А. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- МЕТОД ГРАДИЕНТНОЙ ЗАКВАСКИ -- ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ Аннотация: Приводится решение задачи выбора такой подстилающей плоскости, относительно которой исследуемая поверхность имеет наименьший перепад высот. Проекция измерений на эту плоскость обеспечивает наилучшие условия для визуализации мельчайших объектов методом градиентной закраски. Предлагаемый метод позволяет получать более четкие изображения по сравнению с методом наименьших квадратов, традиционно используемым для выбора подстилающей плоскости в штатном программном обеспечении зондовых микроскопов |
Э 41 Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов / Н. О. Алексеева, В. Л. Вейсман, А. Е. Лукин, С. В. Панькова, В. Г. Соловьев, М. В. Яников // Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 23-26 : рис. - Библиогр.: с. 26 (5 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ОПАЛЫ -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ (СЗМ) -- СПЕКТРОСКОПИЯ БРЭГГОВСКОГО ОТРАЖЕНИЯ -- ПЛЕНКИ ПРОФИЛИРОВАННЫЕ ТОНКИЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ Аннотация: Методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и спектроскопии брэгговского отражения исследованы образцы синтетических опалов, на поверхность которых наносились в вакууме тонкие слои металлов. Значения диаметров сфер образцов опалов, полученные как на основе СЗМ-изображений их металлизированной и не покрытой металлом поверхности, так и расчетным путем из спектров брэгговского отражения, соответствовали друг другу в пределах ошибок измерения. Таким образом, наружная поверхность тонкого слоя металла, покрывающего образец опала, сохраняет форму и пространственную периодичность, характерную для границы раздела между опалом и слоем металла |
М 20 Малышев, К. В. Зондовая сборка наноколец из проводящих наночастиц / К. В. Малышев // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 56-59 : рис. - Библиогр.: с. 59 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОКОЛЬЦА -- НАНОЧАСТИЦЫ -- СБОРКА ЗОНДОВАЯ -- МЕТОД МОЛЕКУЛЯРНОЙ ДИНАМИКИ -- СБОРКА НАНОКОЛЕЦ ДИЭЛЕКТРОФОРЕТИЧЕСКАЯ -- РАЗМЫТИЕ НАНОКОЛЬЦА -- КОЛЕБАНИЯ НАНОЧАСТИЦ ПЕРЕДЕМПФИРОВАННЫЕ БРОУНОВСКИЕ -- НАНОМЕХАНИКА -- НАНОФЛЮИДИКА Аннотация: Методом молекулярной динамики исследована зондовая диэлектрофоретическая сборка наноколец радиусом 60–400 нм из проводящих наночастиц радиусом 10 нм на поверхности проводящей подложки с помощью зонда большого радиуса 100 нм в водном растворе умеренной концентрации. Взаимное отталкивание и экранирование приводят к зазорам порядка 10 нм в кольце между соседними наночастицами и к радиальному размытию нанокольца на такую же величину. Исследовано, как радиус нанокольца, радиус области сборки и радиус области поверхностной диффузии зависят от амплитуды напряжения на зонде и вертикального зазора между зондом и наночастицами. В кольцах радиуса менее 60 нм обнаружены хаотические броуновские передемпфированные колебания наночастиц. Результаты перспективны для зондовых методов нанотехнологии, наномеханики и нанофлюидики |
57 Б 86 Бочарова, Татьяна Викторовна. Биологические наноструктуры. Методы зондовой микроскопии [] : учеб. пособие для вузов / Т. В. Бочарова, А. Н. Власова ; Санкт-Петерб. гос. политехн. ун-т, Национальный исследовательский ун-т. - СПб. : Издательство Политехнического университета, 2013. - 275 с. - (Приоритетный национальный проект "Образование"). - Библиогр.: с. 274-275. - ISBN 978-5-7422-4009-9 : 385.00 р.
Рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ--ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--БИОНИКА |
К 27 Карташев, В. А. Учет геометрии острия иглы для коррекции измерений туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ СТМ -- ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ Аннотация: Ошибки измерений нанорельефа поверхности туннельным микроскопом обусловлены особенностями работы пьезоприводов и системы управления движением зонда. В результате на изображении измеренной поверхности возможно появление объектов, которые в реальности отсутствуют. Учет геометрии острия иглы при интерпретации измерений позволяет существенно уменьшить вклад указанных ошибок. Рассмотрено действие этого фильтра на примере искажений, возникающих при сканировании элементов рельефа с большими изменениями наклона поверхности |
539.2 В 24 Введение в фемтонанофотонику: фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов [] : учеб. пособие для вузов по спец. "Оптотехника", "Лазерная техника и лазерные технологии" / С. М. Аракелян [и др.] ; под общ. ред. С. М. Аракеляна. - Москва : Логос, 2015. - 743 с. : рис. - Авт. указаны на обороте тит. л. - ISBN 978-5-98704-812-2 : 1114.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Оглавление |