С 37 Симонов, В. Н. Метод контроля параметров наноразмерных пленок на основе мультирезонансных кварцекристаллических микрои нановесов / В. Н. Симонов, О. К. Красильникова, Н. Л. Матисон // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 3-4. - С. 64-70 : рис. - Библиогр.: с. 70 (8 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПЛЕНКИ НАНОРАЗМЕРНЫЕ -- НАНОВЕСЫ (QCN) -- МИКРОВЕСЫ КВАРЦЕКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ (QCM) -- РЕЗОНАТОРЫ КВАРЦЕВЫЕ -- ПЛЕНКИ ХИТОЗАНА -- ТЕМПЕРАТУРА -- РЕЗОНАТОР Аннотация: Рассмотрены возможности метода исследования тонких пленок с использованием кварцекристаллических микровесов (QCM) и нановесов (QCN) на основе нескольких резонансов нескольких кварцевых резонаторов. Система из трех кварцевых резонаторов использовалась для измерения различных физико-химических и механических свойств пленок хитозана толщиной от 50 до 200 нм. Измерены изотермы адсорбции паров воды пленками хитозана в диапазонах влажности от 0 до 99 % и диапазоне температур 20–70 °C, механические напряжения в высыхающей пленке, плотность хитозана, модуль Юнга и его поведение в диапазоне температур |