648.4 Д 72 Драгунов, Валерий Павлович. Основы наноэлектроники [] : учеб. пособие / В. П. Драгунов, И. Г. Неизвестный, В. А. Гридчин. - М. : Физматкнига : Логос, 2006. - 494 с. : ил. - (Новая университетская библиотека). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 5-98704-054-X. - ISBN 5-89155-149-7 : 322.00 р., 319.44 р.
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Кл.слова (ненормированные): НАНОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- НАНОТРАНЗИСТОРЫ (ОСНОВЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- КОМПЬЮТЕРЫ КВАНТОВЫЕ |
57 F 97 Functional Micro- and Nanosystems [Text] : proccedings of the 4th caesarium, Bonn, June 16-18, 2003 / ed. K.-H. Hoffmann. - Berlin [et al.] : Springer, 2004. - VIII, 131 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце разд. - ISBN 3-540-21612-X : 3034.00 р.
Рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ--ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ--КОНФЕРЕНЦИИ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): БИОЛОГИЯ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- НАНОСИСТЕМЫ (БИОЛОГИЯ) -- ДНК (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- БИОСЕНСОРЫ (НАНОСИСТЕМЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ПРИМЕНЕНИЕ) |
648.4 Д 72 Драгунов, Валерий Павлович. Основы наноэлектроники [] : учеб. пособие / В. П. Драгунов, И. Г. Неизвестный, В. А. Гридчин ; [ред. Ю. А. Афанасьев [и др.]. - Новосибирск : НГТУ, 2004. - 494 с. : ил. - (Учебники НГТУ). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 5-7782-0387-X : 263.00 р.
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Кл.слова (ненормированные): НАНОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- НАНОТРАНЗИСТОРЫ (ОСНОВЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- КОМПЬЮТЕРЫ КВАНТОВЫЕ |
541.1 N 11 Nabok, Alexei. Organic and Inorganic Nanostructures [Text] : научное издание / A. Nabok. - Boston ; London : Artech House, 2005. - VII, 268 p. : ил. - (Nanotechnology Series). - Библиогр. в конце разд. - Указ.: с. 263-268. - ISBN 1-58053-818-5 : 3175.00 р.
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРЫ (ХИМИЯ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ) -- ХИМИЯ ОРГАНИЧЕСКАЯ (НАНОЧАСТИЦЫ) -- ХИМИЯ НЕОРГАНИЧЕСКАЯ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- БИОДАТЧИКИ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОСТРУКТУРЫ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ХИМИЯ) |
Д 48 Дисплей: тонкий и гибкий, как бумага [Текст] // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 34
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОСТРУКТУРЫ) -- КОМПЬЮТЕРНЫЕ МИКРОСХЕМЫ Аннотация: Все больше внимания уделяется пластиковым компьютерным микросхемам, что обусловлено их удобством применения в микролектронике. Это гибкие пластиковые мониторы, электронная бумага, гибкие персональные компьютеры и многое другое. Причем технология изготовления органических микросхем обещает, что они будут дешевыми |
А 95 Ахметов, Д. Г. Микроэлектромеханические электростатические высокопроизводительные инжекторы микроструй жидкости [Текст] / Д. Г. Ахметов, Э. Г. Косцов, А. А. Соколов // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 53-59 : рис. - Библиогр.: с. 59-60 (47 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОИНЖЕКТОРЫ -- МИКРОАКТЮАТОР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОСТРУЙНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ |
Т 99 Тягунов , О. А. Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем [Текст] / О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 19-25 : рис. - Библиогр.: с. 25 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОМЕХАНИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА |
М 92 Мухин, Д. Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью |
648.6 М 29 Мартинес-Дуарт, Дж. М. Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники [] : переводное издание / Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - М. : Техносфера, 2007. - 367 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Nanotechnology for Microelectronics and Optoelectronics / J. M. Martinez-Duart, R. J. Martin-Palma, F. Agullo-Rueda. - Amsterdam, s. a. - ISBN 978-5-94836-126-0 : 284.34 р.
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--КВАНТОВАЯ РАДИОТЕХНИКА ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА Кл.слова (ненормированные): НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОПТОЭЛЕКТРОНИКА) -- ОПТОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (МИКРОЭЛЕКТРОНИКА) -- ФИЗИКА МЕЗОСКОПИЧЕСКАЯ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- УСТРОЙСТВА ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ (НАНОСИРУКТУРЫ) -- ПРИБОРЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ (НАНОСТРУКТУРЫ) |
Р 76 Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ [] / В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ |
И 88 Использование метода диэлектрофореза при формировании интегральных структур на основе нанотрубок [Текст] / И. И. Бобринецкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 10-13. - Библиогр. : с. 13 (22 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОТРУБКИ -- СЕНСОРЫ -- ДИЭЛЕКТРОФОРЕЗ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА |
Ш 89 Штенников, В. Н. Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО |
A 31 ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению / Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12. : ил. . - ISSN 1993-8578 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МОЛЕКУЛЯРНАЯ СБОРКА -- СВЕРХТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА |
623 Б 20 Балабанов, Виктор Иванович. Нанотехнологии. Наука будущего [] : научное издание / В. Балабанов. - М. : Эксмо, 2009. - 246, [1] с. - (Открытия, которые потрясли мир). - Библиогр.: с. 236-239. - ISBN 978-5-699-30976-4 : 180.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |
648.4 К 66 Кормилицын, Олег Иванович. Механика материалов и структур нано- и микротехники [] : учеб. пособие для вузов / О. И. Кормилицын, Ю. А. Шукейло. - М. : Академия, 2008. - 215, [9] с. : граф., рис., табл. - (Высшее профессиональное образование. Радиоэлектроника). - Библиогр.: с. 210-214. - ISBN 978-5-7695-4093-6 : 402.00 р.
Рубрики: РАДИОТЕХНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |
А 94 Штенников, В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции |
М 74 Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники / Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23 : рис., табл. - Библиогр. : с. 23 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ТВЕРДЫЕ -- ОБРАБОТКА ПОВЕРХНОСТНАЯ КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах |
648.4 В 24 Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9. Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 386-389. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 360.00 р.
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |
62 Г 72ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
С 60 Соловьев, В. В. Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности [] / В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЛЕЙКОСАПФИР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- КВАЗИПЛАС ОБРАБОТКА КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ПОДЛОЖКИ Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность |