А 94 Афанасьев, А. "Малобюджетная " учебно-научная лаборатория "нанотехнологии и нанодиагностика" / А. Афанасьев, В. Лучинин // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 40-42 : ил. - . - ISSN 1993-8578 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫЕ УСЛУГИ -- НАНОДИАГНОСТИКА |
Н 25 Нанодиагностика (материаловедческая аттестация) нанопорошков на основе металлов, используемых при создании ранозаживляющих препаратов / И. П. Арсентьева [и др.] // Нанотехнологии: наука и производство. - 2009. - № 2. - С. 7-11 : рис., табл. - Библиогр. : с. 11 (14 назв.) Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НЧ МЕТАЛЛОВ -- НАНОПОРОШКИ |
Р 25 Раткин , Л. С. Перспективы развития мировой нанотехнологической промышленности / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 8. - С. 2-10. - Библиогр. : с. 10 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОИНДУСТРИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОБИОТЕХНОЛОГИИ -- НАНОДИАГНОСТИКА Аннотация: Третий Международный форум по нанотехнологиям проходил в Москве с 1 по 3 ноября 2010 года. На форуме рассматривались перспективы развития мировой наноиндустрии. Научно-технологическая программа объединяла восемь ключевых направлений: наноэлектроника, нанотехнологии для энергетики, наноматериалы, нанобиотехнологии, нанофотоника, нанотехнологии в медицине, нанодиагностика и катализ и химическая промышленность |
О-62 Определение геометрических параметров массива вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии / О. А. Агеев [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 3. - С. 9-13 : табл., рис. - Библиогр. : с. 13 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОДИАГНОСТИКА -- РЕЖИМЫ СКАНИРОВАНИЯ АСМ -- МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ -- НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований геометрических параметров углеродных нанотрубок и плотности массива вертикально ориентированных углеродных нанотрубок (ВОУНТ) в контактном, полуконтактном и бесконтактном режимах атомно-силовой микроскопии (АСМ). Разработана экспресс-методика определения высоты массива ВОУНТ методом АСМ, с использованием которой определены значения максимальной и средней высоты нанотрубок в экспериментальном образце массива ВОУНТ, которые составили 1,98 мкм и 1,12 ± 0,45 мкм соответственно. В бесконтактном режиме АСМ определена плотность нанотрубок в экспериментальном образце массива ВОУНТ, равная 31 мкм-2. Полученные результаты могут быть использованы при разработке методов нанодиагностики, а также технологических процессов формирования элементов микро- и наноэлектроники на основе ВОУНТ |
И 88 Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии / О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 27-32 : рис., табл. - Библиогр.: с. 32 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МОДУЛЬ ЮНГА -- НАНОКРИСТАЛЛЫ GAAS НИТЕВИДНЫЕ -- ПАРАМЕТРЫ ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛЫ -- МЕТОД АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ -- АРСЕНИД ГАЛЛИЯ -- НАНОДИАГНОСТИКА НИТЕВИДНЫХ СТРУКТУР -- НАНО- И МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Аннотация: Разработана методика определения модуля Юнга ориентированных нитевидных нанокристаллов методом атомно-силовой микроскопии. Представлены результаты исследования влияния геометрических параметров на модуль Юнга ориентированных нитевидных нано-кристаллов арсенида галлия. Экспериментально определено значение модуля Юнга нитевидных нанокристаллов арсенида галлия, которое, в зависимости от их аспектного соотношения, изменялось от 9 до 143 ГПа. Показано, что модуль Юнга нитевидных нанокристаллов GaAs зависит от аспектного соотношения и может превышать значение модуля Юнга объемного GaAs. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов формирования структур нано- и микросистемной техники, нано- и микроэлектроники на основе ориентированных нитевидных нанокристаллов, в частности нанокристаллов арсенида галлия, а также при разработке методик нанодиагностики нитевидных структур |
П 91 Пушин, В. Г. Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии / В. Г. Пушин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104 : рис., табл. - Библиогр.: с. 104 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОДИАГНОСТИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРНЫЕ И НАНОФАЗНЫЕ -- ПОГРЕШНОСТЬ -- МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ -- НАНОМАТЕРИАЛ -- ДИФРАКЦИЯ Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН |