К 13 Кадушников, Р. Информационно-аналитический инструментарий для национальной наноиндустрии [Текст] / Р. Кадушников, С. Сомина // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 32-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (6 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНООБЪЕКТЫ Аннотация: Бурный рост исследований в России в сфере нанотехнологий и планируемый широкомасштабный переход от лабораторного уровня к промышленному производству изделий требует решения проблемы метрологического обеспечения и качественного контроля параметров выпускаемой продукции. Откликом на эту потребность явилась разработка концепции многомасштабного анализа и моделирования наноматериалов и устройств, реализацией которой стал аналитический комплекс SIAMS-CP Nanotech, созданный компанией SIAMS совместно с Центром фотохимии РАН |
К 63 Компьютерное моделирование средств измерений в нанометрологии / А. В. Заблоцкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 8. - С. 2-6 : рис. - Библиогр. : с. 6 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АСМ -- РЭМ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ |
623 F 97 Fundamentals of Nanotechnology [Text] : монография / G. L. Hornyak [et al.]. - Boca Raton [et al.] : CRC Press, 2009. - XXVIII, 780 p. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 769-770. - ISBN 978-1-4200-4803-2 : 2064.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |
П 76 Применение виртуального растрового электронного микроскопа для определения диаметра проецирующей микролинзы атомного нанолитографа / А. В. Заболоцкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 2-7 : рис. - Библиогр. : с. 7 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): РЭМ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- ОПТИКА АТОМНАЯ -- НАНОЛИТОГРАФИЯ |
В34 Н 15 Навотный, Лукас. Основы нанооптики [] : учебник : пер. изд. / Л. Навотный, Б. Хехт ; под ред. В. В. Самарцева ; пер. с англ. А. А. Коновко, О. А. Шутовой. - М. : Физматлит, 2009. - 482 с. - Предм. указ.: с. 469-482. - Пер. изд. : Principles of nano-optics / L. Novotny, B. Hecht. - Cambrige, 2006. - ISBN 978-5-9221-1095-2 : 613.60 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |
Б 28 Батурин, А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе / А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7 : рис., табл. - Библиогр. : с. 7 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АСМ -- ЕМКОСТЬ -- ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением |
Н 47 Некоторые особенности измерений линейных размеров наночастиц золота в разных физических состояниях / С. Н. Григорьев [и др.] // Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 38-45 : рис., табл. - Библиогр. : с. 45 (13 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛЫ НАНОКОМПОЗИТНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ Аннотация: Проведено сравнение линейных размеров наночастиц (НЧ) золота, измеренных с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и динамического рассеяния света (ДРС). НЧ золота получены методом химического восстановления в водной среде, в качестве восстановителей и стабилизаторов использовали карбоксиметилцеллюлозу (КМЦ), метигидроксиэтилцеллюлозу (МГЭЦ) и цитрат натрия. Наибольшие расхождения в значении средних размеров НЧ золота, определенных всеми методами, обнаружены в системе «Au-КМЦ», где наблюдается бимодальное распределение размеров НЧ. Во всех случаях средние размеры частиц (D), определенные тремя методами, располагаются в следующем порядке D(ДРС-интенсивность) > D(СТМ) > D(ПЭМ) > D(ДРС-по числу частиц). Ширина ДРС-распределений по сравнению с данными ПЭМ и СТМ существенно завышена. Обсуждаются возможные причины таких расхождений. Рассмотрены сравнительные достоинства и недостатки примененных методов, и отмечено, что хотя ДРС является на сегодняшний день единственным инструментом для невозмущающей и чувствительной диагностики НЧ в жидких средах, получение количественных результатов с его помощью является достаточно сложной задачей. Сделан вывод, что при нанесении исследуемых наносистем на твердую поверхность в процессе испарения растворителя и формирования компактного слоя из НЧ золота их размер практически не меняется. Измеренные толщины стабилизирующих оболочек (d) располагаются в следующем порядке: d(КМЦ) > d(МГЭЦ) > d(цитрат), который хорошо согласуется с молекулярной массой стабилизаторов |
621 С 32 Сергеев, Алексей Георгиевич. Нанометрология [] : монография / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2012. - 413 с. : рис. - Библиогр.: с. 409-413. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 457.60 р. Прил.: с. 397-408
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ |
Г 12 Гавриленко, В. П. Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий / В. П. Гавриленко, П. А. Тодуа // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55 : рис. - Библиогр.: с. 55 (19 назв.) . -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОЧАСТИЦ -- НАНОСТРУКТУР -- НАНОПОКРЫТИЯ -- ПЛЕНКИ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОДЫ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях |
Ж1 М 54 Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |
Ж1 Л 66 Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Оглавление |