538 Р 76 Российская конференция по электронной микроскопии (ЭМ'2002) (19 ; 2002 ; [Черноголовка]). XIX Российская конференция по электронной микроскопии ЭМ'2002 [] : тез. докл., 28 мая-31 мая 2002 г. / РАН. Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов и др. - Черноголовка : [б. и.], 2002. - 286 с., 2 л. вкл. ил. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 279-285. - 30.00 р. РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ--КОНФЕРЕНЦИИ ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ Кл.слова (ненормированные): БИОЛОГИЯ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- КЛАСТЕРЫ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- МЕДИЦИНА (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (ХИМИЯ) -- МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- ОПТИКА ЭЛЕКТРОННАЯ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ |
623 М 59 Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения" [] : научное издание / под ред. Ю. Д. Третьякова. - М. : [б. и.], 2008. - 181 с. : ил., фото.цв. - 10.00 р. Тит. л. отсутствует
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |
538 Р 24 Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения [] : переводное издание / под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга, Т. П. Каминская ; пер с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, [2013]. - 582 с., [8] вкл. л. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 574-582. - Пер. изд. : Scanning Microscopy for Nanotechnology. - 2006. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |