Е 30 Егоров, В. В. Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть I / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 36-44 : рис. - Библиогр. : с. 44 (3 назв.) Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МЕТОД КИРХГОФА -- ГРАНИЧНАЯ ЗАДАЧА -- РАДИУС КОРРЕЛЯЦИИ -- ДИСПЕРСИЯ |