Г 31 Гелевер, В. Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения [Текст] / В. Гелевер // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 20-24 : фото, рис. . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗАЩИТНАЯ КАМЕРА -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ Аннотация: Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется из-за низкого разрешения. Разработка ООО"ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы |
М 27 Маркелов, А. С. Исследование возможности формирования пространственной структуры рентгеновских пучков с использованием легированных кристаллов / А. С. Маркелов, В. Н. Трушин, Е. В. Чупрунов // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 4. - С. 40-42. - Библиогр.: с. 42 (13 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ -- ПРОСТРАНСТВЕННАЯ СТРУКТУРА -- РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ -- ТЕМПЕРАТУРНОЕ ПОЛЕ -- КОНТРАСТ Аннотация: Исследуется возможность управления пространственной структурой рентгеновских дифракционных пучков при воздействии на легированные кристаллы лазерного излучения с пространственно неоднородной интенсивностью. Экспериментально исследовано изменение дифракционных параметров легированного кристалла KDP, вызванное поглощением в нем лазерного излучения длиной волны 532 нм. Приведены данные по моделированию дифракционного изображения поверхности кристалла, находящегося в условиях теплового воздействия на него лазерного пучка |