М 64 Мирошниченко, И. П. Оптические измерительные технологии и их применение для контроля технического состояния конструкционных материалов и изделий [] / И. П. Мирошниченко, А. Г. Серкин, В. П. Сизов // Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 56-59 : рис. - Библиогр. : с. 59 (8 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ |
В 75 Воронин, А. И. Механическая прочность ветвей термоэлементов на основе Ві2Те3 при различных методах их получения / А. И. Воронин, А. С. Осипков, Т. А. Горбатовская // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 2. - С. 17-21 : рис., табл. - Библиогр. : с. 21 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МОДУЛИ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ -- ВЕТВИ ТЕРМОЭЛЕМЕНТОВ -- ТОЧНОСТЬ МЕХАНИЧЕСКАЯ Аннотация: Исследуется механическая прочность ветвей термоэлементов (ТЭ) на основе Bi2Te3 mеpмоэлекmpических модулей (ТМ). Дается mеоpеmическая оценка наряжений, возникающих в ветвях ТЭ в процессе эксплуатации ТМ, а также приводятся pезульmаmы экспеpименmального исследования пpочносmи ветвей ТЭ. Сpавнение механической точности ветвей ТЭ, полученных pазличными методами (сmандаpmные, сбоpные и прессованные ветви) показало, что сбоpные ветви имеют более высокие показатели минимальном pазбpосе, что обусловлено более совеpшенной сmpукmуpой исходного mеpмоэлекmpического маmеpиала |
К 72 Костров, А. И. Макромодель ячейки памяти с магнитным туннельным переходом / А. И. Костров // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - С. 7-11 : рис. - Библиогр. : с. 11 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
Кл.слова (ненормированные): МАКРОМОДЕЛЬ -- ПЕРЕХОД МАГНИТНЫЙ ТУННЕЛЬНЫЙ -- ПАМЯТЬ МАГНИТОРЕЗИСТИВНАЯ Аннотация: Предложены электрическая макромодель и эквивалентная схема ячейки магниторезистивной памяти на основе магнитного туннельного перехода, переключаемого спин-поляризованным током. В ней использованы нелинейные резисторы для представления параллельного и антипараллельного состояний намагниченности ферромагнитных слоев. Модель ориентирована на применение в системах компьютерного моделирования и проектирования интегральных микросхем. Ее точность и вычислительная эффективность продемонстрированы на примере элемента магниторезистивной памяти |
М 74 Модификация зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии методом фокусированных ионных пучков / С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 4-8 : рис. - Библиогр. : с. 8 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОД ФОКУСИРОВАННЫХ ИОННЫХ ПУЧКОВ -- ДАТЧИКИ-КАНТИЛЕВЕРЫ ЗОНДОВЫЕ -- СОПРОТИВЛЕНИЕ РАСТЕКАНИЯ Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований по модификации зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии (АСМ) путем осаждения на поверхность балки кантилевера вольфрамового острия методом фокусированных ионных пучков (ФИП) с применением высокоселективной газовой химии. Показано, что полученные методом ФИП зонды длиной 5 мкм и радиусом закругления порядка 50 нм позволяют повысить точность измерений тестовых объектов. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов изготовления и модификации зондовых датчиков-кантилеверов АСМ, а также при исследовании структур микро-и наносистемной техники |
О-62 Определение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом внешней оптической обратной связи / А. Д. Усанов, А. В. Скрипаль , Е. О. Кащавцев, М. Ю. Калинкин // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 9. - С. 43-49 : рис., табл.,схема. - Библиогр.: с. 49 (12 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОВИБРАЦИИ -- ЛАЗЕР ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ -- СИГНАЛ АВТОДИННЫЙ -- ИЗМЕРЕНИЕ АМПЛИТУД ВИБРАЦИЙ -- СВЯЗЬ ОБРАТНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ ВНЕШНЯЯ Аннотация: Проведен анализ влияния внешней оптической обратной связи на форму и спектр продетектированного сигнала полупроводникового лазерного автодина. Предложен метод определения амплитуды нановибраций, заключающийся в измерении отношения амплитуд первых спектральных составляющих автодинного сигнала при нановибрациях и при наложении дополнительных механических колебаний, с учетом уровня внешней оптической обратной связи. Экспериментально показано, что учет внешней оптической обратной связи позволяет существенно повысить точность измерений амплитуд нановибраций |
Д 40 Джашитов, В. Э. Блок микромеханических чувствительных элементов с реверсивной системой терморегулирования на модуле пельтье / В. Э. Джашитов, В. М. Панкратов // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 3. - С. 35-43. - Библиогр.: с. 43 (16 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ ГИРОСКОП И АКСЕЛЕРОМЕТР -- ИНЕРЦИАЛЬНЫЙ БЛОК МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ -- СИСТЕМА ТЕРМОРЕГУЛИРОВАНИЯ -- МОДУЛЬ ПЕЛЬТЬЕ -- ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ -- МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ -- ТОЧНОСТЬ Аннотация: Рассматриваются теоретические и прикладные аспекты анализа и синтеза активной реверсивной системы терморегулирования (СТР) инерциального блока микромеханических чувствительных элементов (БММЧЭ), предназначенной для повышения точности блока. Предложено и обосновано применение термоэлектрических модулей Пельтье. Построена математическая модель тепловых процессов динамической системы "БММЧЭ-СТР", разработано программное обеспечение, проведено исследование математической модели, выбраны параметры СТР, получены качественные и количественные оценки функционирования динамической системы при сложных температурных воздействиях |
Ч-67 Численнное и экспериментальное моделирование прочностных характеристик сферопластиков / Ю. И. Димитриенко, С. В. Сборщиков, А. П. Соколов, Б. Р. Гафаров, Д. Н. Садовничий // Композиты и наноструктуры. - 2013. - № 3. - С. 35-51 : рис. - Библиогр.: с. 50-51 (22 назв.) . - ISSN 1999-7590 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): КОМПОЗИТЫ -- СФЕРОПЛАСТИКИ -- ТЕНЗОРЫ КОНЦЕНТРАЦИИ НАПРЯЖЕНИЙ -- КРИТЕРИЙ ПРОЧНОСТИ -- МИКРОРАЗРУШЕНИЕ -- ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ -- МЕТОД КОНЕЧНОГО ЭЛЕМЕНТА -- МЕТОД АСИМПТОТИЧЕСКОГО ОСРЕДНЕНИЯ Аннотация: Представлены результаты численного конечно-элементного моделирования процессов микроразрушения полимерных материалов, наполненных микросферами. Моделирование осуществляется на основе конечно-элементного решения локальных задач на ячейке периодичности для сред с повреждаемостью, постановка которых обусловлена применением метода асимптотического осреднения периодических структур. Проведен детальный анализ полей тензоров концентрации напряжений в матрице и наполнителях. В качестве критерия прочности матрицы и микросфер использован модифицированный критерий прочности Писаренко-Лебедева. Проведено численное исследование процесса последовательного микроразрушения сферопластика вплоть до полного его разрушения. Проведено экспериментальное исследование упругих и прочностных характеристик эпоксидных сферопластиков, которое показало, что результаты численного моделирования обеспечивают достаточно высокую точность прогноза эффективных упруго-прочностных свойств композитов |