Инвентарный номер: нет.
   
   К 78


    Красников, Г. Я.
    Отличительные особенности и проблемы КМОП-технологии при уменьшении проектной нормы до уровня 0,18 мкм и меньше [Текст] / Г. Я. Красников, О. М. Орлов // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 7-8. - С. 124-128 : рис., табл. - Библиогр. : с. 128 (27 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОТОЛИТОГРАФИЯ -- МЕТОД RET


Инвентарный номер: нет.
   Пр 68-1/19


   
    Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. В. Ф. Лукичев. - М. : Наука, 2008. - 246, [1] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 19). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 70-летию со дня рождения действительного члена РАН А. А. Орликовского. - Б. ц.
ГРНТИ
ББК 648.441я43(2)
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ


Инвентарный номер: нет.
   
   Ф 81


   
    Фоторезисты для встречно-штыревых преобразователей систем радиочастотной идентификации на основе акустоэлектронных элементов на поверхностных акустических волнах / В. А. Калинин, В. В. Пинаев, А. В. Макарова, А. В. Захаров // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 5. - С. 30-33 : рис., табл. - Библиогр.: с. 33 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОТОРЕЗИСТ -- ВОЛНЫ ПОВЕРХНОСТНЫЕ АКУСТИЧЕСКИЕ -- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ВСТРЕЧНО-ШТЫРЕВЫЕ -- ФОТОЛИТОГРАФИЯ "ВЗРЫВНАЯ" -- РЧИД -- ПАВ -- ВШП
Аннотация: Дан обзор и приведена сравнительная характеристика фоторезистов для технологии "взрывной" фотолитографии в целях получения встречно-штыревых преобразователей (ВШП) систем радиочастотной идентификации (РЧИД) на основе акустоэлектронных элементов на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Выделен фоторезист, удовлетворяющий особенностям изделий на ПАВ. Использование данного метода позволит обеспечить надежный контроль над размерами элементов