В 18 Вареник, Ю. А. Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик / Ю. А. Вареник, Р. М. Печерская // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6 . - С. 17-19 : рис. - Библиогр. : с.19 (3 наим.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- СТРУКТУРЫ-МДП -- СТРУКТУРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ Аннотация: Рассмотрены вопросы формирования тестового воздействия на микро- и нанополупроводниковые структуры при измерении вольт-фарадных характеристик (ВФХ). Предложена необычная схема формирователя тест-сигнала на основе принципа мостового включения генераторов и нагрузки. Описан разработанный измерительный модуль на основе предложенной схемы |
Б 28 Батурин, А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе / А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7 : рис., табл. - Библиогр. : с. 7 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АСМ -- ЕМКОСТЬ -- ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением |