В 18 Вареник, Ю. А. Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик / Ю. А. Вареник, Р. М. Печерская // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6 . - С. 17-19 : рис. - Библиогр. : с.19 (3 наим.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- СТРУКТУРЫ-МДП -- СТРУКТУРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ Аннотация: Рассмотрены вопросы формирования тестового воздействия на микро- и нанополупроводниковые структуры при измерении вольт-фарадных характеристик (ВФХ). Предложена необычная схема формирователя тест-сигнала на основе принципа мостового включения генераторов и нагрузки. Описан разработанный измерительный модуль на основе предложенной схемы |
М 54 Метод измерения тока переключения и диэлектрических параметров сегнетоэлектриков / Е. А. Печерская [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 1. - С. 24-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (9 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТОК ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ -- СЕГНЕТОЭЛЕКТРИК -- ПОЛЯРИЗАЦИ\Я СПОНТАННАЯ -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЙ -- СХЕМА СОЙЕРА-ТАУЭРА Аннотация: Проанализирован метод косвенного измерения диэлектрических параметров сегнеmоэлекmриков, основанный на измерении временной зависимости тока переключения с помощью схемы Сойера-Тауэра. Приведены формулы для расчета времени переключения, активного сопротивления, обусловливающего потери энергии при спонтанной поляризации, емкости, поляризованносmи |