Инвентарный номер: нет.        Е 30     Егоров, В. В.     Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть I / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 36-44 : рис. - Библиогр. : с. 44 (3 назв.) ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МЕТОД КИРХГОФА -- ГРАНИЧНАЯ ЗАДАЧА -- РАДИУС КОРРЕЛЯЦИИ -- ДИСПЕРСИЯ

Инвентарный номер: нет.        Е 30     Егоров, В. В.     Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть II / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 4. - С. 26-31 : ил. - Библиогр. : с. 31 (3 назв.) ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ГРАНИЧНОЕ ПОЛЕ -- РАССЕЯННОЕ ПОЛЕ

Инвентарный номер: нет.        Е 30     Егоров, В. В.     Рассеяние волн на границе раздела двух сред / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 11-13. - Библиогр. : с. 13 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): УРАВНЕНИЯ МАКСВЕЛЛА -- УРАВНЕНИЕ ИНТЕГРАЛЬНОЕ -- ГРАНИЦА РАЗДЕЛА -- ДЕКОМПОЗИЦИЯ ЗАДАЧИ

Инвентарный номер: нет.        Е 30     Егоров, В. В.     Аналитическое решение задачи рассеяния электромагнитной волны от статически неровной в среднем плоской поверхности / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 47-51 : рис. - Библиогр. : с. 51 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): ЗАДАЧА ГРАНИЧНАЯ -- НЕРОВНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ -- ПОЛЕ ГРАНИЧНОЕ -- ПОЛЕ РАССЕЯННОЕ

Инвентарный номер: нет.        Е 30     Егоров, В. В.     Вопросы моделирования многомерных нано- и микроструктур / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 1. - С. 15-20. - Библиогр. : с. 20 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: МАТЕМАТИКА Кл.слова (ненормированные): ПОЛЕ -- ПРОЦЕСС ПУАСОНОВСКИЙ -- АЛГОРИТМ -- МАЖОРАНТ -- ПРОЦЕСС СТОХАСТИЧЕСКИЙ

Инвентарный номер: нет.        Е 30     Егоров, В. В.     Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - Библиогр. : с.54 ( 3 наим.) . - ISSN 1813-8586 УДК 620.3 ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СДВИГ -- ПОЛЕ -- СИГНАЛ -- АЛГОРИТМ Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах