62 Г 72ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
62 М 54ГОСТ Р 8.700-2010 Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [] : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 05.04.2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. - Библиогр.: с. 11. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
62 М 59ГОСТ Р 8.630-2007 Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ |