Инвентарный номер: нет.    Пат. 2617151 Российская Федерация, МПК G01N 23/20, B82B 1/00.         Способ диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов / В. Б. Малков, И. В. Николаенко, Г. П. Швейкин, А. В. Малков, В. Г. Пушин, Б. В. Шульгин, О. В. Малков ; заявитель и патентообладатель Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук. - № 2015129885 ; Заявл. 20.07.2015 ; Опубл. 21.04.2017 // Изобретения. Полезные модели. - 2017. - № 12