Инвентарный номер: И-13751 - кх. 539.2 E 46 Ellipsometry at the Nanoscale : сборник / eds. M. Losurdo, K. Hingerl. - Berlin [et al.] : Springer, 2013. - XVIII, 730 p. : il. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-3-642-33955-4 : 11243.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА , Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |