Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 623/Б 87-092678 Ж3/Б 87 Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У. Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие по спец. "Прикладные математика и физика" Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004 Колич.характеристики :377 с.: ил. Серия: Мир материалов и технологий Разночтения заглавия :Загл. на доп.тит.листе: Microstructural Characterization of Materials Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 376-377. - Пер. изд.: Microstructural Characterization of Materials / D. Brandon, D. Kaplan. New York, 1999. - Прил.: с. 363-366 ISBN, Цена 5-94836-018-0: 181.50 р. ГРНТИ : 81.09 ББК : Ж3я7 + 539.212я7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛЫ ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред. пер.; авт. предисл.\; Егорова, О. В. \т. доп.\